ISSN   1004-0595

CN  62-1224/O4

高级检索
一种薄膜温度传感器的研制与性能试验[J]. 摩擦学学报, 1995, 15(4): 355-360.
引用本文: 一种薄膜温度传感器的研制与性能试验[J]. 摩擦学学报, 1995, 15(4): 355-360.
Development and performance Test of a Thin-Film Temperature TranSducer[J]. TRIBOLOGY, 1995, 15(4): 355-360.
Citation: Development and performance Test of a Thin-Film Temperature TranSducer[J]. TRIBOLOGY, 1995, 15(4): 355-360.

一种薄膜温度传感器的研制与性能试验

Development and performance Test of a Thin-Film Temperature TranSducer

  • 摘要: 以射频溅射法分别溅射沉积的Al2O3和MgO复合层作为绝缘匪,以真空蒸镀的钛膜作为温度敏感膜和以溅射Al2O3膜作为保护膜,研制成功了一种宽度为15μm的薄膜温度传感器。测试结果表明,复合层绝缘膜的绝缘性能明显地比Al2O3绝缘膜的好,经过同样的热处理后,前者能够保持其20MΩ以上的电阻基本不变,而后者则由20MΩ以上降低到1kΩ以下。在给定的试验条件下,这种传感器对温度及作用时间的信号响应敏感,

     

/

返回文章
返回