飞行时间二次离子质谱在摩擦学领域中的应用

ISSN 1004-0595

CN 62-1224/O4

飞行时间二次离子质谱在摩擦学领域中的应用[J]. 摩擦学学报, 2007, 27(6): 592-599.

引用本文:

飞行时间二次离子质谱在摩擦学领域中的应用[J]. 摩擦学学报, 2007, 27(6): 592-599.

Applications of Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectroscopy in the Tribological Studies[J]. TRIBOLOGY, 2007, 27(6): 592-599.

Citation:

Applications of Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectroscopy in the Tribological Studies[J]. TRIBOLOGY, 2007, 27(6): 592-599.

Applications of Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectroscopy in the Tribological Studies

摘要: 介绍了二次离子质谱(SIMS)的结构、基本原理、分析特点,特别是飞行时间二次离子质谱在摩擦学研究领域,如对涂层及摩擦反应膜、润滑油添加剂的吸附与反应、硬磁盘/磁头摩擦界面中的应用与进展,指出了飞行时间二次离子质谱分析中存在的问题,希望为摩擦学领域学者在表面分析方面提供一些新的启示.

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